求助

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<>2006年东三省建模比赛试题</P>
<>A题（研究生、本科生）  硬盘振动测量</P>
<>硬盘是计算机上的重要部件，正向着更小、更快、密度更高的方向发展。如何减小盘片的振动，成为关键问题，于是怎样检测盘片的振动更加重要。由于硬盘转速很高，不适宜接触式测量，容易想到光学测量。<BR>有一种新技术测量物体表面获得振动情况，是利用类似镜面反射的几何光学原理工作的：选用同一点光源发出两束光线，照射有反射能力的被测物体平面，产生的两条反射光线再照射到水平放置的接受屏上。接受屏能够检测出光线照射点在接受屏平面上的坐标位置，问题是怎样利用图2中O’x’y’平面的两个坐标值反算出被测物体当前的平面方程，就可利用平面方程的变化得到振动情况。<BR>图1是用两条光线检测的原理图，点光源O为坐标原点，E1和E2是盘片瞬间位置的反射点，此时盘片局部表面方程为z=ax+by+(c+D)，其中a,b,c为未知量，由于硬盘在振动，平面就偏离了初始位置z=D(D&lt;0)；接受屏方程为z=h，其中h&gt;0为接受屏的高度，B1和B2是其上的照射点，这样利用它们确定 、 和 获得盘片局部表面方程。<BR>（本题作到确定出 、 和 即可，不必分析振动情况）</P>
<P><BR>问题 1：请解释这种测量技术采用两束光线的原因。<BR>问题 2：请建数学模型分析盘片局部表面方程的测量原理。<BR>问题 3：试分析接受屏分辨率（测量精度）对盘片局部表面方程的影响。<BR>提示：可利用计算机模拟的办法求出一系列B1和B2在接受屏上的坐标值，再对该值进行某一精度（10-4，10-5，10-6等等）下的四舍五入取整，这样获得的盘片局部表面方程就包含了接受屏分辨率的影响。</P>

MM123

<>我们也还没想到</P>[em11]